Публикации лаб. 192 за 2026 г.

1. Статьи в журналах WoS/Scopus

1.       Orlov M.A., Fedin M.G., Kalashnikov V.S., Koledov V.V., Aksenov K.D., Nesolenov A.V., Shambilova G.K., Makarov G.I., Levin I.S. The Parametrization of Thermoelastic Martensite Phase Transformations at Constant Stress in Shape Memory Alloys Using a Sigmoidal Boltzmann Function // Metals. – 2026. – V. 16, № 2. – P. 194. ISSN 2075-4701. DOI: 10.3390/met16020194  EDN: HDWNJE

2.  Smolovich A.M., Orlov A.P., Frolov A.V., Klebanov L.D., Laktaev I.D., Smolovich P.A., Butov O.V. Identification of Rough Surface Replicas // Optics Communications. – 2026. – V. 606. – P. 132915. ISSN 0030-4018. DOI: 10.1016/j.optcom.2026.132915  EDN: DFNNOJ

2. Статьи в журналах RSCI / ВАК

1. Антонец И.В., Голубев Е.А., Щеглов В.И. Анизотропия локальной проводимости графеносодержащего шунгита по данным электросиловой микроскопии // Журнал радиоэлектроники. – 2026. – № 1. – C. 9. ISSN 1684-1719. DOI: 10.30898/1684-1719.2026.1.11  EDN: EZNZVV
2. Суслов Д.А., Щеглов В.И. Фазовая диаграмма двухподрешеточного ферримагнетика с точкой компенсации в присутствии анизотропии, размагничивания и неоднородного обмена // Журнал радиоэлектроники. – 2026. – № 2. – C. 12. ISSN 1684-1719. DOI: 10.30898/1684-1719.2026.2.6  EDN: CCTPYV
3. Суслов Д.А., Щеглов В.И. Влияние анизотропии и обменного взаимодействия на фазовую диаграмму тонкой пленки из двухподрешеточного ферримагнетика с точкой компенсации // Журнал радиоэлектроники. – 2026. – № 3. – C. 9. ISSN 1684-1719. DOI: 10.30898/1684-1719.2026.3.7  EDN: GPALFJ
4. Шапоров В.Н., Шавров В.Г., Щеглов В.И. Мультигармонические резонансно-связанные упругие моды в структуре ферромагнетик-диэлектрик, возбуждаемые переменным магнитным полем // Радиотехника и электроника. – 2026. – Т. 71, № 1. – С. 43-57. ISSN 0033-8494. DOI: 10.7868/S3034590126010038 EDN: OYKJVE

5. Антонец И.В., Голубев Е.А., Щеглов В.И. Применение метода трехступенчатой резистивной сетки для анализа электрической проводимости графеносодержащего шунгита по данным растровой электронной микроскопии // Журнал радиоэлектроники. – 2026. – № 4. – C. Х. ISSN 1684-1719. DOI: 10.30898/1684-1719.2026.4.9  EDN: